By this author

Analysis of Nonlinear Distortions of Dphemt Structures Based on a GaAs/InGaAs Compound with Double-Sided Delta-Doping

Issue number 1 from 15.02.2024

В работе приведены результаты исследований вольт-фарадных характеристик GaAs/In_0.53Ga_0.47As HEMT до и после нейтронного облучения флюенсом (6.3 ± 1.3) × 10¹⁴ у. е. На основании экспериментально полученных характеристик проведены расчеты эффективных профилей распределения электронов исследуемой структуры до и после облучения. Проведен анализ влияния радиационных дефектов на δ-слои исследуемой структуры.

140 0