Исследованы многослойные кремниевые диодные структуры с базовыми субмикронными слоями n- и p-типов проводимости, выращенные методом сублимационной молекулярно-пучковой эпитаксии. Определены профили распределения концентрации носителей заряда в активной области указанных структур. Установлено, что предложенный метод обеспечивает равномерное распределение концентрации носителей заряда по толщине слоев и резкое изменение на границе с подложкой или другим слоем. Такие структуры перспективны для изготовления диодов.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации